Örnek Haritalama

Müşteri tarafından sağlanan fiziksel numuneye dayanarak (yıpranmış veya kırılmış kullanılmış bir parça olsa bile), fiziksel yapı tersine mühendisliğinden malzeme düzeyinde fizikokimyasal karakterizasyona kadar tam spektrumlu bir hizmet sunuyoruz. Yarı iletken sınıfı yüksek hassasiyetli denetim ekipmanından yararlanarak, karmaşık 3 boyutlu geometrik yapıları, kaplama/alt tabaka arayüz özelliklerini ve malzeme fiziksel parametrelerini doğru bir şekilde ölçerek tersine mühendislik ürünü ürünün veya Fiziksel uyum, süreç uyumluluğu ve hizmet ömrü (Form-Fit-Fonksiyon Değişimi) açısından OEM standartlarını aşar.

Neyi Ölçüyoruz (Teknik Teslimatlar):

• Boyutsal ve Geometrik Toleranslar:Yüksek hassasiyetli Koordinat Ölçüm Makineleri (CMM) ve optik 3D tarayıcılar kullanarak, tam boyutlu nokta bulutu modellemesi ve karmaşık boşluk yapılarının yeniden yapılandırılması ve deliklerin montajı/konumlandırılmasını gerçekleştirerek mikron düzeyinde doğruluk elde ediyoruz.
• Yüzey Mikro Morfolojisi ve Düzlüğü:Nanometre ölçekli yüzey pürüzlülüğünü (Ra) ve geniş alan düzlüğünü değerlendirmek için beyaz ışık interferometreleri ve optik profilometrelerin kullanılması, levha işleme ve bölme sızdırmazlık gereksinimlerinin karşılanması.
• Edge Mikro Özellikleri:Kaplama tırmanma morfolojisini optimize etmek ve keskin köşelerde yüksek sıcaklıkta katmanlara ayrılmasına neden olabilecek gerilim yoğunlaşmasını önlemek için kenar R yarıçaplarının ve pah mikro profillerinin yüksek büyütmeli haritalaması.
• Grafit Substrat ve Termal Eşleştirme Analizi:Substrat ve CVD kaplama arasındaki termal stres eşleşmesini sağlamak için yüksek saflıkta grafit substrat yoğunluğunun, tane boyutunun ve termal genleşme katsayısının (CTE) değerlendirilmesi.
• Kaplama Kesiti ve Arayüz Birleşme Kalitesi:Mutlak kalınlığı, CVD kaplamanın radyal tekdüzeliğini ve arayüz penetrasyon derinliğini ölçmek için tahribatsız XRF ve metalografik kesit SEM analizi.
• Faz Yapısı ve Mikro Kristal Analizi:CVD SiC'nin kübik faz (β-SiC) saflığının XRD değerlendirmesi; CVD TaC'nin kimyasal stokiyometrisi ve kristal yapı özelliklerinin niteliksel değerlendirmesi.

Gerçek Durum ve Müşteri Avantajları (Deneyim):

12 inçlik yarı iletken gravür bileşeni müşterisi:OEM tedariği durduruldu; yalnızca bir adet aşınmış kullanılmış parça mevcuttu. CMM ters modelleme + SEM kaplama kesit analizi sayesinde, yedek parça geliştirmeyi ve takım üzeri testleri herhangi bir orijinal çizim olmadan 2 ay içinde tamamlayarak %100 kurulum uyumu sağladık. Sonuçta bileşen tedarik döngüsü orijinal 6 aylık ithalat teslim süresinden 2 aya düşürüldü, birim tedarik maliyeti %42 düştü ve bu model 30'dan fazla parti için istikrarlı bir şekilde tedarik edildi.

SEM kaplama kesitinde Silisyum Karbür (SiC) kaplama

SSS

Ayrıcalıklı Hizmetinize Şimdi Başlayın